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東 北 大 學 繼 續(xù) 教 育 學 院
現(xiàn)代材料測試技術X 試 卷（作業(yè)考核 線上2） A 卷（共 3 頁）
總分 題號 一 二 三 四 五 六 七 八 九 十
得分
一、：（30分）
（ ）1. 從X射線管射出的X射線譜通常包括連續(xù)X射線和特征X射線。
（ ）2. 布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示入射線波長，d表示衍射（干涉）面的間距，θ表示掠射角。
（ ）3. 利用衍射卡片鑒定物相的主要依據是d值，參考厚度。
（ ）4. 透射電鏡中的電子光學系統(tǒng)可分為照明、成像和顯示記錄三部分。
（ ）5. 電鏡中的電子衍射花樣有斑點花樣、環(huán)狀花樣、菊池線花樣和會聚束花樣。
（ ）6. 等厚條紋是衍射強度隨試樣厚度的變化而發(fā)生周期性變化引起的，圖像特征為明暗相間的條紋。
（ ）7. 電子探針X射線顯微分析中常用X射線譜儀有光譜儀和能譜儀。
（ ）8. 俄歇電子能譜儀最適合做材料的厚度和輕元素的成分分析。
（ ）9. 電子探針定性分析時是通過測定特征X射線波長或能量確定元素，定量分析時通過測定X射線的強度確定含量。
（ ）10. 當X射線照射在一個晶體時，產生衍射的必要條件是滿足布拉格方程, 而產生衍射的充要條件是同時滿足結構因數(shù)不等于零 。
（ ）11. 隨X射線管的電壓升高,λ0和λk都隨之減小。
（ ）12. 當X射線管電壓低于臨界電壓時僅可以產生連續(xù)X射線；當X射線管電壓超過臨界電壓就可以產生特征X射線和連續(xù)X射線。
（ ）13.當X射線照射在一個晶體時，產生衍射的必要和充分條件是必須滿足布拉格方程。
（ ）14. 面心點陣的系統(tǒng)消光規(guī)律是 H+k+L 為偶數(shù)時出現(xiàn)反射，而 H+K+L 為奇數(shù)不出現(xiàn)反射。
（ ）15. 掃描電鏡的表面形貌襯度是采用背散射電子形成的電子像。
二、選擇題：（20分）
1. 當X射線將某物質原子的K層電子打出后,L層電子回遷K層,多余能量將另一個L層電子打出核外,這整個過程將產生( )。
A.特征X射線 B. 背反射電子 C.俄歇電子
2. 吸收電子的產額與樣品的原子序數(shù)關系是原子序數(shù)越小，吸收電子（ ）。
A.越多 B.越少 C.不變
3. 僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號是（ ）。
A.背散射電子； B. 二次電子； C. 吸收電子； D.透射電子。
4. 讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法，叫做（ ）。
A.明場成像 B.暗場成像 C.中心暗場成像
5. 透射電鏡的兩種主要功能是檢測（ ）。
A.表面形貌和晶體結構 B.內部組織和晶體結構 C.表面形貌和內部組織
6. 由電磁透鏡磁場中近軸區(qū)域對電子束的折射能力與遠軸區(qū)域不同而產生的像差，稱為（ ）。
A.球差 B.像散 C.色差
7. 具有fcc結構晶體的（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（311）對應的倒易點在衍射時都有可能落在反射球面上，而晶面（ ）將出現(xiàn)反射。
A.（311） B.（200） C.（210） D. A和B。
8. 有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是0.286nm，用鐵靶Kα（λKα=0.194nm）照射該晶體能產生（ ）衍射線。
A. 三條； B .四條； C. 五條； D. 六條。
9. 據Ewald圖解可知，滿足衍射條件的晶面倒易點陣，必落在半徑為（ ）的反射球面上。
A. 1/入 B. 2/入 C. 1/2 入
10. 下列晶面屬于[ 11]晶帶的是（ ）。
A.（ 1）（ 1） B.（211）（101） C.（ 01）（1 3）
三、問答題：（50分）
1. 一鎢靶X射線管的管電壓為30kV，計算其發(fā)射的連續(xù)X射線的λ0和λmax。
2. α-Fe屬立方晶系，點陣參數(shù)a=0.2866nm。如用CrKαX射線（λ=0.2291nm）照射，試求（110）、（200）及（211）可發(fā)生衍射的掠射角。
3. 電子束入射固體樣品表面會激發(fā)哪些信號? 它們有哪些特點和用途?
4. 試述X射線衍射單相物相定性分析的步驟？
5.某面心立方結構物資的電子衍射花樣如圖示，已標出部分指數(shù)，試標出其余指數(shù)，并求出晶帶軸指數(shù)r和晶格常數(shù)a 。
已知： R1= 6.5mm R2=16.4mm Lλ=3.98mm.nm
φ =82.3°
